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簡要描述：清晰度計(jì)是一款創(chuàng)新型清晰度檢測(cè)儀，是ICM-1T的全新升級(jí)款，能夠快速測(cè)量透射/反射的圖像清晰度代表著光學(xué)行業(yè)的技術(shù)和制造能力，儀器采用數(shù)據(jù)的形式準(zhǔn)確表達(dá)圖像清晰度，消除人眼觀察帶來的誤差和分歧。儀器具有高重復(fù)性和高穩(wěn)定性，Z小光掩膜寬為0.125mm，是高度精確的圖像清晰檢測(cè)儀器。
產(chǎn)品型號(hào)：ICM-2廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2024-11-22訪 問 量：2469詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品種類 | 自動(dòng) |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
快速測(cè)量透射/反射的圖像清晰度
清晰度計(jì) ICM-2
ICM-2圖像清晰度計(jì)是一款創(chuàng)新型清晰度檢測(cè)儀，是ICM-1T的全新升級(jí)款，能夠快速測(cè)量透射/反射的圖像清晰度代表著光學(xué)行業(yè)的技術(shù)和制造能力，儀器采用數(shù)據(jù)的形式準(zhǔn)確表達(dá)圖像清晰度，消除人眼觀察帶來的誤差和分歧。儀器具有高重復(fù)性和高穩(wěn)定性，Z小光掩膜寬為0.125mm，是高度精確的圖像清晰檢測(cè)儀器。圖像清晰度度ICM-2測(cè)量圖像清晰度儀器，清晰度測(cè)量結(jié)果以數(shù)據(jù)的形式表示出來，清晰度值C%表示。
ICM-2清晰度檢測(cè)儀廣泛應(yīng)用在光學(xué)膜、塑料薄膜、液晶顯示器、條形碼等行業(yè)。可測(cè)量物體表面反射的圖像清晰度，也可測(cè)量通過透明薄膜、塑料等看物體的 圖像清晰度等.圖像清晰度度ICM-2主要特點(diǎn)，高度精確的光學(xué)設(shè)計(jì)和制造技術(shù)，能夠用數(shù)值的形式準(zhǔn)確的表達(dá)詳細(xì)的圖像清晰度。同時(shí)該儀器還具有高重復(fù)性和穩(wěn)定性，小光掩膜寬為0.125mm，精確的圖像清晰檢測(cè)儀器。
01 |
顯著減少 測(cè)量時(shí)間 測(cè)量僅需5秒 |
ICM-2的特點(diǎn)：
顯著減少測(cè)量時(shí)間
與傳統(tǒng)型號(hào)相比， 測(cè)量時(shí)間可以從約30秒顯著縮短到約5秒
透射模式和反射模式
同一設(shè)備可進(jìn)行三種模式測(cè)量： 透射測(cè)量、反射測(cè)量（45°, 60°) 。樣品臺(tái) 和光接收器的位置和角度可以輕松準(zhǔn)確地切換。
長壽命VI-LEDTM光源
燈泡的使用壽命（10000小時(shí)） 明顯長于舊型號(hào)的鹵鎢燈。無需等待光源穩(wěn) 定， 可以在打開電源后立即進(jìn)行測(cè)量。
"VI-LEDTM" 為SUGA在日本的注冊(cè)商標(biāo) .
60° 反射 |
鏈接電腦操作
原軟件可用于操作測(cè)量單 元并顯示測(cè)量結(jié)果。 軟件 具有多種功能， 包括平均 測(cè)量、通過/失敗判斷功 能、 圖形顯示和樣本名稱 管理。
Display
選擇測(cè)量模式
規(guī) 格 | ICM-2 | |||
測(cè)量項(xiàng)目 | C(n) : 圖像清晰度(%) 光掩膜寬度n(mm) Mn :對(duì)應(yīng)于光掩膜寬度n(mm)的最大光強(qiáng) mn : 對(duì)應(yīng)于光掩膜寬度n(mm)的最小光強(qiáng) | |||
| 反射 ：45?入射 ? 45?觀察 或 60?入射 ? 60?觀察 (可切換) | 透射 ：0?入射 及觀察透射光 | ||
光源狹縫 | ||||
φ25mm | ||||
光掩膜 | ||||
孔徑 | ||||
最大樣品尺寸 | 反射 45?：約 550×130×t15mm 反射 60?：約 330×130×t15mm | 透射 ：約. 400×130×t15mm | ||
光源 | VI-LEDTM (白色 LED) | |||
穩(wěn)定性 | 透射測(cè)量: 標(biāo)準(zhǔn)偏差 C(0.125) 0.2以內(nèi) (連續(xù)測(cè)量空氣30次) | |||
電源 | AC100 ~240V 約. 200VA 50Hz/60Hz | |||
外形尺寸 | 約. W70×D48×H30cm | |||
重量 | 約. 35kg | |||
適用標(biāo)準(zhǔn) | ISO 17221, ISO 20266, JIS K7374 | |||
Note that the specifications of the test instruments described in this catalog are subjected to change without notice due to improving. The test standards information
on this catalog is those at the time this catalog was produced. Test standards are periodically reviewed and revised, please check the latest test standards. 2024.06
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